Chunglai Hung Probes Manufacturing Co., Ltd.

CPM提供一系列半导体测试探针产品。我们的产品具有高性能合规性、极低且稳定的直流电阻。这些产品专为半导体测试而开发，可与各种插座一起用于检查。测试工厂可以根据测试目标的特点改变接触式探头的类型，确保在装运前对IC上电气部件之间的连接进行全面检查。

材料和饰面：
1. 柱塞顶部：钯合金
2.柱塞底部：钯合金
3.桶：P.B./镀金
4.弹簧：音乐线/镀金

机械：
1.弹簧力：4克@0.35毫米
2.全行程：0.5毫米
3.推荐行程：0.35mm
4.机械寿命：50K

电气：
1. 额定电流：0.3A
2. 接触电阻：200mΩ
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